1 GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫
2 GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3 GJB150.3A－2009            高溫試驗(yàn)方法
4 GJB150.4A－2009             低溫試驗(yàn)方法
5 GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6 GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
7 GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8 GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)    試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
9 GJB150.9A-2009               濕熱試驗(yàn)方法
10G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法
11GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
12GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
13GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
14GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量

以上就是上海寶試整理出恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行的國(guó)標(biāo)，國(guó)軍標(biāo)等相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，給廣大客戶(hù)做一個(gè)參考。